Межфакультетская базовая кафедра 'Физика наноструктур и наноэлектроника'

Межфакультетская базовая кафедра 'Физика наноструктур и наноэлектроника'


Дроздов Юрий Николаевич


старший научный сотрудник ИФМ РАН, доктор физ.-мат. наук.

drozdyu@ipm.sci-nnov.ru

Дроздов Юрий Николаевич

Персональные данные

Родился 7 июля 1947 г., г. Киров, Россия.

Научные интересы

Рентгеновская дифрактометрия эпитаксиальных структур. Механизмы формирования и дефектообразование в эпитаксиальных слоях.

Образование



1970 г. - окончил физический факультет Горьковского государственного университета им. Н.И.Лобачевского;



1974 г. - защитил кандидатскую диссертацию "Современные методы анализа функции Патерсона. Расшифровка кристаллических структур минерала вуоннемита и двух синтетических ванадатов серебра".

Профессиональная карьера



1970 - 1972 - младший научный сотрудник Горьковского исследовательского физико-технического института (ГИФТИ при ГГУ);



1972 - 1978 - старший научный сотрудник ГИФТИ;



1978 - 1992 - зав. лабораторией ГИФТИ;



1992 - 1994 - с.н.с. Института прикладной физики РАН;



с 1994 - с.н.с. Института физики микроструктур РАН.

Избранные публикации



Расшифровка кристаллических структур фенаксита и иннелита методом кратных пиков. Кристаллография, 1971, т.16, ?4, с.6. В.П.Головачев, Ю.Н.Дроздов, Э.А.Кузьмин, В.В.Илюхин, Н.В.Белов.



Исследование гетероэпитаксиальных структур GexSi1-x/Si полученных в вакууме. Изв. АН СССР. Сер. "Неорг. матер." 1990, т.26, в.8, с.4. Л.Н.Абросимова, Ю.Н.Дроздов, Т.С.Кунцевич, В.А.Толомасов.



О триклинной деформации псевдоморфных слоев на подложках с разориентированным срезом. Кристаллография, 1993, т.38, в.3, с.3. Ю.Н.Дроздов.



Стpуктуpа и тpанспоpтные свойства свеpхтонких пленок YBaCuO. Письма в ЖЭТФ 1996, т.63, вып.8, с.608. А.В.Ваpганов, Е.А.Вопилкин, П.П.Вышеславцев, Ю.Н.Дроздов, Ю.Н.Ноздpин, С.А.Павлов, А.Е.Паpафин, В.В.Таланов.



Слои фуллерена С60 на слюде и сапфире. Поверхность, 1997, вып.3, с.8. Ю.Н.Дроздов, Е.Б.Клюенков, Н.Е.Лентовская, Л.А.Мазо, Л.А.Суслов.



Рентгеновская дифрактометрия 10 нм - пленок YBa2Cu3O7-d. Поверхность. РСНИ, 1998, вып.10, с.13. Ю.Н.Дроздов, Л.Д.Молдавская, А.Е.Парафин.



Рентгенооптическая схема для дифракционного исследования полупроводниковых квантовых слоев и точек. Поверхность. РСНИ, 2000, 1, с.136. Ю.Н.Дроздов, Л.Д.Молдавская, В.М.Данильцев, О.И.Хрыкин, А.В.Новиков, В.В.Постников.



Динамическое рассеяние рентгеновских лучей на многослойных эпитаксиальных структурах. Физика твердого тела: Лабораторный практикум. Под ред проф. А.Ф.Хохлова. Том1. Нижний Новгород. ННГУ, 2000. С.169. Ю.Н.Дроздов, Л.Д.Молдавская.



Модуляция большеугловых рентгеновских дифракционных отражений сверхпериодом рентгеновских зеркал и полупроводниковых многослойников. Поверхность. РСНИ, 2003, ?2, с. 67. Ю.Н.Дроздов, С.А.Гусев, Е.Н.Садова, В.М.Данильцев, О.И.Хрыкин, В.И.Шашкин.



Сегрегация индия при выращивании квантовых ям InGaAs/GaAs в условиях газофазной эпитаксии. ФТП, 2003, Т.37, ?2, С.203. Ю.Н Дроздов, Н.В. Байдусь, Б.Н. Звонков, М.Н. Дроздов, О.И. Хрыкин, В.И. Шашкин.

преподаватели и сотрудники кафедры


в начало | общая информация | новости | сотрудники кафедры | практикум | учебный план | конференции, семинары | контакты

© Институт физики микроструктур Российской академии наук, 2004 - 2008


Rambler's Top100