Межфакультетская базовая кафедра 'Физика наноструктур и наноэлектроника'

Межфакультетская базовая кафедра 'Физика наноструктур и наноэлектроника'

'Ближнепольный СВЧ микроскоп'

'Ближнепольный СВЧ микроскоп'

Назначение:

Исследование локального нелинейного СВЧ отклика сверхпроводящих пленок и многослойных наноструктур.

Состав: генератор сигналов высокочастотный Г4-129 (диапазон 0.31-1.2 ГГц) с внутренней модуляцией на частоте 1кГц, СВЧ циркулятор, СВЧ фильтры, криомагнитная вставка в транспортный гелиевый дьюар о сверхпроводящими соленоидами, ближнепольный СВЧ зонд, СВЧ детектор, усилитель селективный У2-8, селективный нановольтметр, блок питания сверхпроводящих соленоидов СТС-60, блок питания предварительного СВЧ усилителя, осциллографы, самописцы, резервуар для жидкого азота, автоматизированная система сканирования зонда, измерения и стабилизации температуры (только при T>77 K).

Характеристики установки:



Рабочий диапазон температур: 4.2 - 100 К (охладитель - жидкий гелий), 77 - 100 К (охладитель - жидкий азот).



Рабочий диапазон магнитных полей: до 3 кЭ (охладитель - жидкий гелий), до 0.4 кЭ (охладитель - жидкий азот).



Чувствительность: 10-14 Вт/Гц1/2.



Пространственное разрешение: 40 мкм.

Проводимые исследования:



характеризация сверхпроводящих пленок Nb, YBaCuO и многослойных наноструктур Mo/Si, Mo/B4C, включая исследование зависимости локальной критической температуры Tc от внешнего магнитного поля;



исследование пространственной неоднородности сверхпроводящих пленок YBaCuO (разброс Tc в плоскости пленки);



исследование температурных и полевых зависимостей локального нелинейного СВЧ отклика сверхпроводящих образцов (Nb, YBaCuO, Mo/Si, Mo/B4C).

Спецпрактикум для студентов:



Определение критической температуры сверхпроводящих пленок с помощью локальной СВЧ методики.

практикум


в начало | общая информация | новости | сотрудники кафедры | практикум | учебный план | конференции, семинары | контакты

© Институт физики микроструктур Российской академии наук, 2004 - 2008


Rambler's Top100