Межфакультетская базовая кафедра 'Физика наноструктур и наноэлектроника'

'Интерференционная фототермическая спектроскопия'

Назначение: Измерение малых коэффициентов поглощения оптического излучения в оптических полупроводниковых материалах и тонких пленках.

Состав: Набор источников излучения: СО₂-лазер накачки ЛГ-74 (непрерывный, одномодовый, 1 - 2 Вт); Нe-Ne лазер ЛГН-302 (непрерывный); Нe-Ne лазер ЛГ-207А (непрерывный). Поляризационный интерферометр (схема Жамена-Лебедева). Юстировочная система для излучения накачки. Механический модулятор. Электронная аппаратура: дифференциальный детектор оптического излучения, измеритель мощности оптического излучения, синхронный детектор УПИ-2, вольтметр цифровой, блок питания модулятора. Вспомогательные средства: осциллограф двухлучевой, частотомер, генератор низкой частоты.

Проводимые исследования:

измерение объёмного поглощения и его пространственного распределения в плоскопараллельных объемных образцах оптических полупроводниковых материалах на длине волны 10.6 мкм;

измерение поверхностного поглощения в плоскопараллельных образцах полупроводниковых оптических материалах на длине волны 10.6 мкм;

измерение поглощения в пленках и интерференционных покрытиях, нанесенных на оптически прозрачные средах.

практикум