'Комбинированный СТМ/АСМ микроскоп с селективной оптической подсветкой'
Назначение:
Исследование морфологии, локальных фотоэлектрических свойств поверхности твердых тел.
Состав: Измерительная головка микроскопа, блок электронной системы управления микроскопом, компьютер, оптический спектрометр МДР-23 с автоматизированной системой управления от персональной ЭВМ.
Проводимые исследования:
исследование особенностей локального фототока в гетероструктурах GaAs/InAs с квантовыми ямами и точками;
исследование морфологии поверхности, электрических и фотоэлектрических свойств органических полупроводниковых пленок на основе фталоцианина меди;
исследование особенностей взаимодействия проводящего зонда АСМ с поверхностью при изменении напряжения между зондом и образцом и в условиях фотовозбуждения рабочего промежутка;
исследование морфологии и неоднородности электрических свойств ВТСП пленок YBaCuO, а также магнитных наноструктур, изготовленных на основе композитных пленок переходных металлов (Co-C, Co-Pd, Fe-Cr, Ni-Fe и др.).
