Межфакультетская базовая кафедра 'Физика наноструктур и наноэлектроника'

Межфакультетская базовая кафедра 'Физика наноструктур и наноэлектроника'

'Фурье-спектроскопия высокого разрешения'

'Фурье-спектроскопия высокого разрешения'

Назначение:

Исследование спектров поглощения (стандартный вариант), спектров фото- и электролюминесценции, фотопроводимости, отражения.
Состав: Фурье спектрометр BOMEM DA3.36 с набором широкополосных источников излучения и делителей луча, охватывающих диапазон 10 - 20000 см-1; набором чувствительных приемников излучения в диапазоне 10 - 20000 см-1 (охлаждаемый германиевый болометр 10 - 370 см-1, DTGS - 10 - 700 см-1, Si:B - 350 - 800 см-1, CdHgTe - 800 - 5000 см-1, InSb - 3200 - 12000 см-1, Ge - 5900 - 12500 см-1 , InGaAs - 6350 - 11000 см-1, Si - 8500 - 55000 см-1); гелиевым проточным криостатом в интервале 300 - 4.2 К CF-104 "Oxford Instruments" для оптических измерений;гелиевым и азотным криостатами с оптической системой для измерений фото- и электролюминесценции; Kr+- и Ar+-лазеры для возбуждения люминесценции; охлаждаемые до гелиевых температур вставки для измерений спектров фотопроводимости; комплект электроники для регистрации спектров фотопроводимости, включая прецизионный емкостной мост для бесконтактного метода исследования фотопроводимости полупроводников.

Проводимые исследования:



исследования спектров фотопроводимости полупроводниковых гетероструктур (GaAs/AlGaAs, Ge/GeSi) в дальней ИК области;



исследования спектров поглощения и спектров фотопроводимости мелких примесей в монокристаллах полупроводников (Ge, Si, GaAs, SiGe, CdTe);



исследования спектров фото- и электролюминесценции микро- и наноструктур на основе кремния, легированного редкоземельными элементами Si:Er/Si, Si:Ho/Si;



исследования спектров люминесценции наноструктур SiGe/Si Ge/Si, включая структуры с наноостровками Ge;



измерения спектров поглощения и отражения полупроводников и полупроводниковых структур.

практикум


в начало | общая информация | новости | сотрудники кафедры | практикум | учебный план | конференции, семинары | контакты

© Институт физики микроструктур Российской академии наук, 2004 - 2008


Rambler's Top100